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檢測認證人脈交流通訊錄

XRF膜厚檢測儀

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    • Thick800A 性能特點 滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求 高精度移動平臺可定位測試點,重復定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光,可自動定位測試高度 定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊 鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點 高分辨率探頭使分析結果更加準確 良好的射線屏蔽作用 測試口高度敏感性傳感器保護 技術指標 型號:Thick 800A 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。 同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。 分析含量一般為ppm到99.9% 。 鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同) 任意多個可選擇的分析和識別模型。 相互獨立的基體效應校正模型。 多變量非線性回收程序 度適應范圍為15℃至30℃。 電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm 重量:90kg XRF膜厚檢測儀http://www.trt-instrument.com/Products-36600921.html https://www.chem17.com/st484160/product_36600921.html

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