檢測認證人脈交流通訊錄
供應美國麥克全自動Χ光沉降粒度分析儀SediGraph III 5125
- 產品簡介
SediGraph?ⅢPlus
全自動X光沉降粒度分析儀
SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
久經考驗的技術和可靠性
在過去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環境還是在專業的化驗室，SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據Stockes定律，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。
產品應用
軟件和數據報告
應用筆記、文獻和參考書目
ASTM 方法
智能設計特色
SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性極高的結果。
? 簡化泵系統，確保快速分析和易于維護
? 降低噪聲，提供更加安靜的工作環境
? 維護提醒裝置，根據總測試量，提示用戶進行定期維護
? 電腦控制混合室溫度，提高測試可重復性
? Windows操作軟件，以太網連接，可進行點擊式選擇菜單，聯網工作，打印機選擇，剪切和粘貼等操作
? 多功能和交互式報告系統，能夠提供多種類型的報告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）
多項功能
完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進行分析，包括粒徑大于300μm和小于0.1μm的部分
能夠與其他粒徑測得的數據相結合，使數據報告范圍可擴展至125,000μm(125mm)，在地質學方面具有很好的應用
自下而上地掃描沉降室，能夠準確的獲取沉降顆粒的總數，同時*小化顆粒分離所需的時間
全自動操作模式能夠增加分析樣品總數，并且能夠減少人為操作步驟，以降低由人為操作造成的測量誤差
控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質不發生任何變化，以獲取精確的分析結果
多種分析速度，可根據實際需要選擇所需的速度和分辨率
實時顯示，能夠監控當前分析的累積質量圖，以便根據需求立即修正分析程序
統計過程控制（SPC）報告能夠跟蹤過程性能，便于立即對變化做出響應
多圖疊加功能，能夠對分析結果進行可視化比較，例如：與參考樣品或基線疊加，或者將同一分析數據的兩種不同類型結果圖疊加
數據比較圖，能夠提供兩套數據組（不同于參考圖）圖形顯示的數學差或某個數據點高于/低于誤差范圍的程度（指定圖以外）
能夠使用同一臺計算機同時控制兩SediGraph，節約寶貴的實驗室空間，方便數據存儲
蘇州科帝斯懷特工業設備有限公司
廖映成
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