檢測認證人脈交流通訊錄
- 粒度測量儀EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經驗，為各種應用引入了滿足各種不同應用需求的粒徑粒形分析方法。
粒度測量儀測量原理
粒徑分析(PSA)
EyeTech激光粒度儀采用有名的激光遮擋法（LOT）。這是一種針對旋轉的激光光束遮擋時間的粒徑分析技術。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne激光掃描，該激光采用楔形棱鏡，以200Hz的速度旋轉。在角速度已知的情況下，每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續時間來計算。這免除了其它分析技術所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。
EyeTech激光粒度儀具有高精度、可靠性和重復性。我們激光方法在600個不連續的時間間隔進行粒徑測量，得到高分辨率的粒徑分布。顆粒粒徑是直接測出來的，而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數、粘度變化、布朗運動、熱傳導和其它物理現象的影響。
動態粒形分析(DSC)
動態粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數字圖像并分析大量形狀參數。動態顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態流動過程中，可以連續捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監測。大量圖片被放大、處理和自動分析，確保結果具有充分的代表性。圖像和統計數據都可以打印或儲存，作為樣品記錄。
粒度測量儀
https://www.chem17.com/st471263/product_37347826.html
https://www.chem17.com/st471263/erlist_2403192.html
