檢測認證人脈交流通訊錄
- ContourX家族中的高效能臺式光學輪廓儀,配備自動XYZ樣品臺,高級查找表面功能,拼接及大范圍成像功能ContourX-200 光學輪廓儀提供了高級表征能力、可選定制配件、和使用方便三者的完美融合,是同類產品中最快、最準確、可重復性最高的非接觸式三維表面計量系統。該計量系統占地面積小,采用更大視場、5MP 數碼攝像頭和全新電動 XY 工作臺,具有卓越的二維/三維高分辨測量能力。ContourX-200 擁有出色的 Z 軸分辨率和精確度,具備布魯克專有白光干涉(WLI)技術廣受業界認可的所有優勢,而且不存在傳統共聚焦顯微鏡和同類普通光學輪廓儀的局限性。ContourX-200 采用強大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面,提供數千種自定義分析以提升實驗室和工廠的效率。布魯克全新通用掃描干涉(USI)測量模式可提供全自動、自感知表面紋理、優化信號處理,同時對所分析的表面形貌執行最準確、最實際的計算。該系統采用新款攝像頭,擴大了視場,加上新型電動 XY 工作臺具有的靈活性,提升了處理多種樣品和零部件時的靈活性和效率。軟硬件的完美結合,實現卓越的光學性能,全面超越同類計量技術。
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