徠卡 DM12000M大型半導體檢查顯微鏡產品特點： 用于12”精密的觀察和復檢系統 Leica DM12000 M 徠卡DM12000M全新的光學設計,可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能(OUV, 傾斜紫外觀察模式) 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸(300毫米)硅片的產能。 該機照明 基于最新的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內置技術確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。 只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。

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