檢測認證人脈交流通訊錄
- 二維多點尺寸測量儀
一、測量原理
將綠色LED 光轉化為均一的平行光進行照射。檢測出二維CMOS 上受光的明暗投影，然后測量
其尺寸和角度等。
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二、二維多點尺寸測量儀特點
1、實現由“點”到“面”，全范圍測量
傳統的激光掃描方式：激光掃描方式只能測量光點照射的 1 個位置。無法實現多點同時測量或
調整傾斜的測量。
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二維多點尺寸測量儀
通過二維測量，可一次捕獲目標物的全部信息。只有在二維條件下才能進行的任意多點測量或邊
調整傾斜邊進行測量。
2、相機方式光軸無波動，可測量指定點的尺寸
傳統的激光掃描方式
多面鏡的鏡面精度不同，每個取樣點的激光掃描軌跡也會不同。在激光掃描方式中，馬達勻速旋
轉的性能同馬達的使用時間有關，隨著使用時間變長，馬達勻速旋轉的性能將變差。傳統產品使用時
間越長，激光掃描軌跡的偏差就會越大。
二維多點尺寸測量儀
采用相機方式，閃動一次快門即可測量整個范圍。
產品無驅動器，因此可測量指定點的尺寸。
3、高耐久性
傳統的激光掃描方式
因為有驅動器，所以產品的耐久性較差，需要對產品進行維護。此外，傳統產品的光源存在被瞬
間高電壓損壞的隱患。
二維多點尺寸測量儀
[ 無驅動器 ]
因產品無任何驅動器，可實現高耐久性。這種設計克服了傳統激光掃描方式的弱點－馬達耐久性
的問題。
