檢測認證人脈交流通訊錄
- X熒光光譜儀/德國斯派克光譜儀/x熒光分析儀
產品型號：XEPOS
簡單說明：x熒光分析儀
主要特點:
1.偏振X光激發樣品，具有極低的背景，極佳的靈敏度 2.真正意義的Na-U的全分析，無需濾光片。 3.分析的含量范圍ppm級到100% 4.極為豐富的軟件系統，提供各種方法及校正模式。
詳細說明
x熒光分析儀
1.功率50W，最大電壓50KV，最大電流2mA
2.50W端窗Pd靶X光管
3.硅漂移計數器，分辨率小于170eV
4.3位置次級靶自動轉換系統，即3束X激發光源
5.可選真空、充氣、常壓系統
x熒光分析儀主要特點:
1.偏振X光激發樣品，具有極低的背景，極佳的靈敏度
2.真正意義的Na-U的全分析，無需濾光片。
3.分析的含量范圍ppm級到100%
4.極為豐富的軟件系統，提供各種方法及校正模式。
x熒光分析儀儀器介紹:
臺式偏振 X 射線熒光光譜儀是德國斯派克分析儀器公司推出的新一代儀器。擴展的偏振光學系統首次使用 50W 低能量的 X 射線管作為輻射源，用于 Na-U 元素的同時分析。從 X 射線管中發出的原始 X 射線通過高通量偏振光學系統進行轉換，得到的完全偏振且部分單色的 X 射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術在許多應用中不需要高吸收輻射的濾光片。
SPECTRO XEPOS 可廣泛地應用于石油、化工、冶金、礦業、制藥、食品、環保、地質、建材、廢物處理以及再加工工業等。以油中各種元素的分析為例。使用 SPECTO XEPOS ，在氦氣保護狀態下，在 300 秒鐘之內，對于 P 、 S 、 Cl 、 RA 、 Cu 、 Zn 、 Ba 的檢測下限在 1-7μg/g 以上。
XEPOS 型 X 射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩定性好，可應對歐洲 WEEE 、 RoHS 指令以及 SONY STM
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X熒光光譜儀/德國斯派克光譜儀/x熒光分析儀
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