晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80
晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80是高性價比的晶振測試系統,采用微處理器技術,實現智能化測量,符合IEC-444標準。測量頻率范圍20K Hz-100MHz,附RS-232接口進行數據通迅。
晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80采用π型網絡零相位法實現等精度測量。它測量精度高,速度快;具有串聯諧振頻率、負載諧振頻率、串聯諧振電阻、負載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數測量,可保存5個不同晶振頻率和負載電容參數,負載電容在6-22P范圍內任意編程設置,從滿足不同負載電容的晶振測試,智能運算克服了市場上晶體阻抗計阻抗數值顯示不明顯的缺點、解除了手工校對的麻煩,讓晶振測試變得更輕松。
3負載諧振電阻:10Ω-300Ω 10K-300K
4 PPm范圍測量:±100ppm
5 PPm測量精度:< 0.6ppm
6 時基頻率:16.384M
7晶振穩定性:5×10-8 /日
8 體積:80mm×235mm×305mm
保修期:三年
4說明書 1份