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檢測認證人脈交流通訊錄

布魯克手持式礦石分析儀

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    • 快速、高效、準確;探礦、找礦、評估的最理想工具。 測量范圍(Mg-U) Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd, Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。 測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦 例如:鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、 銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等 主要應用 主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦; 還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。 對不規則或很小的樣品都能快速完成識別測試。 主要特性: 簡體中文界面 Windows Mobile5.0操作系統 開機后不需校準就可直接測量 采用布魯克專利技術的XFlash®SDD檢測器 分析元素最小從Mg開始,達40多種。 分析范圍:ppm級至50%以上(與礦樣種類有關) 實時分析數據和圖譜顯示 XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣 測量完全無損,不受樣品形狀限制 儀器自動校準,自動存儲測量數據,無需人工干預 主機一體化設計,高強度密封,防水、防塵,抗沖擊 可選擇一鍵式定時測量 內置Bruker專業操作軟件,計算和顯示速度快 儀器適應高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環境 在開機狀態下長時間不測量時,儀器會自動進入待機狀態,以節省電源和保護儀器 X射線管耐用性強,采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命 選配GPS定位系統,可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖 萬能FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現場工作時間。自動補償元素間干擾。 免費軟件升級 對礦石開發與含量分析進行快速、精確分析 野外操作時,自由攜帶,非常方便 技術規格 重量 1.5kg 尺寸 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) 激發源 X射線管,Ag靶,40kV 檢測器 XFlash®硅漂移檢測器(SDD), 檢測速度快; 能量分辨率高:145eV, 計數率:250kcps  冷卻系統 Peltier半導體冷卻系統 電源 交、直流供電;2塊充電鋰電池,可連續工作8-12小時 工作條件 溫度:-20℃~+55℃  濕度:0~95% 電池充電器 交流充電器:110/220V,50/60Hz 計算機/顯示器 240x320彩顯; 65,536像素; 背景光可調; 觸摸屏 數據傳輸 USB,無線藍牙,SD卡 數據存儲 主機:512MB 存儲卡:CF/SD卡,2GB,能存儲幾十萬個光譜圖譜和測量數據 熱表面適配器 熱表面適配器,可測量500℃高溫樣品 安全 密碼保護,設有多級安全鎖 運輸箱 減震、抗壓、防水、密封儀器箱 支持語言 包括中、英文在內12種語言(用戶自選) 質保期 獲得認證 整機2年,終身維護、保養、維修 CE、TUV、IECEE、ISO9001

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