HALT（高加速壽命測(cè)試）：Highly accelerated life test是一種發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷的工序，它通過(guò)設(shè)置逐級(jí)遞增的加速環(huán)境應(yīng)力，來(lái)加速暴露試驗(yàn)樣品的缺陷和薄弱點(diǎn)，而后對(duì)暴露的缺陷和故障從設(shè)計(jì)、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，最大的特點(diǎn)是設(shè)置高于樣品設(shè)計(jì)運(yùn)行限的環(huán)境應(yīng)力，從而從暴露故障的時(shí)間大大短于正常可靠性應(yīng)力條件下的所需時(shí)間