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北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司中心實驗室

檢測認證人脈交流通訊錄

  • 元器件破壞性物理分析部分項目檢測

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  • 對應法規：
    CNAS認可項目：是
  • 1、GJB 4027A-2006軍用電子元器件破壞性物理分析方法2、GJB 5914-2006各種質量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法3、GJB3233-1998半導體集成電路失效分析程序和方法4、GJB3157-1998半導體分立器件失效分析方法和程序,1、《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》GJB 4027A-20062、《各種質量等級軍用半導體器件破壞性物理分析方法》GJB 5914-20063、《半導體集成電路失效分析程序和方法》GJB3233-19984、《半導體分立器件失效分析方法和程序》 GJB3157-1998

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