檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄
機(jī)電設(shè)備及電子電工產(chǎn)品低溫 試驗(yàn)檢測
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對應(yīng)法規(guī):
CNAS認(rèn)可項(xiàng)目:是
- GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫,IEC 60068-2-1:2007 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)-試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn),GJB 150.4-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn),GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn),GJB 4.3-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn),GJB 4.4-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn),MIL-STD-810F:2000 環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 方法 502.4 低溫,GB/T 14710-2009 醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗(yàn)方法,ISO 16750-4:2010 道路車輛-電氣和電子設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:
北京強(qiáng)度環(huán)境研究所
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