1.技術(shù)原理

XRD（X-ray diffraction 的縮寫），中文翻譯是X射線衍射，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。由于任何一種結(jié)晶物質(zhì)都具有特定的晶體結(jié)構(gòu)，而不同晶體結(jié)構(gòu)形成不同的衍射特征，對于多相試樣的衍射圖譜可以看成是各個物相衍射特征的簡單疊加。在建立一個粉末衍射圖譜數(shù)據(jù)庫（PDF）的基礎(chǔ)上，將所測圖譜與數(shù)據(jù)庫中的圖譜進(jìn)行對比，從而確定物相，而衍射強(qiáng)度與樣品中該礦物的含量相關(guān)，進(jìn)一步確定各物相的相對含量。

2. 應(yīng)用領(lǐng)域及測試內(nèi)容

XRD衍射儀廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域，本公司通過專業(yè)的技術(shù)人員和設(shè)備主要提供石油、地質(zhì)領(lǐng)域測試分析，具體包含：

（1）巖石（包含砂巖、泥頁巖）全巖組分測試分析；

（2）巖石（包含砂巖、泥頁巖）粘土礦物類型及含量的測試分析。

3.儀器設(shè)備簡介

公司擁有日本理學(xué)最新衍射儀SmartLab SE，并購買理學(xué)專利智能的測量分析軟件SmartLab Guidance，該儀器參數(shù)如下：

（1）X射線發(fā)生器功率為3KW；

（2）測角儀為水平測角儀；

（3）測角儀最小步進(jìn)為1/10000度，最高精度測角儀（雙光學(xué)編碼、直接軸上定位）；

（4）測角儀配程序式可變狹縫；

（5）自動識別所有光學(xué)組件、樣品臺（理學(xué)專利）；

（6）CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路；

（7）入射端Ka1光學(xué)組件；

（8）高速探測器D/teX-Ultra250（能量分辨率20%以下）。