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檢測認(rèn)證人脈交流通訊錄

  • 可靠性檢測-高溫存儲壽命試驗-STT賽特檢測

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  • 對應(yīng)法規(guī)：檢測
    CNAS認(rèn)可項目：是

  • 高溫存儲壽命試驗

     

    實驗?zāi)康?/strong>

    為了考核高溫對試樣的影響，確定試樣在高溫條件下存儲的適應(yīng)性。該實驗一般用到高低溫 試驗箱。

    實驗原理

    電子元器件在高溫環(huán)境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使器件的電參數(shù)發(fā)生明顯變化或 絕緣性下降。使電子元器件處于高溫下一定時間,考核電子元器件的外觀與電參數(shù)是否發(fā)生變 化，從而確定電子元器件的抗高溫能力。

    實驗參考標(biāo)準(zhǔn)

    JESD22-A103、GJB1864A-2011

     

     


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