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深圳市賽特檢測有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄
  • 高溫存儲壽命試驗--高溫存儲壽命試驗標準

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  • 對應法規:JESD22-A103、GJB1864A-2011
    CNAS認可項目:是
  • 實驗目的

    為了考核高溫對試樣的影響,確定試樣在高溫條件下存儲的適應性。該實驗一般用到高低溫 試驗箱。

    實驗原理

    電子元器件在高溫環境中,其冷卻條件惡化,散熱困難,將使器件的電參數發生明顯變化或 絕緣性下降。使電子元器件處于高溫下一定時間,考核電子元器件的外觀與電參數是否發生變 化,從而確定電子元器件的抗高溫能力。

    實驗參考標準

    JESD22-A103、GJB1864A-2011

    實驗條件舉例

     

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李龍

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