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智能電子產(chǎn)品如今已經(jīng)成為我們生活當(dāng)不可以缺少的一份部分,環(huán)境可靠性試驗(yàn)是指:產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過(guò)程中,不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響,而仍需要能夠正常工作,這就需要用試驗(yàn)設(shè)備對(duì)其進(jìn)行驗(yàn)證,這個(gè)驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個(gè)部分。
對(duì)電子產(chǎn)品而言,可靠性越高就越好。可靠性高的產(chǎn)品,可以長(zhǎng)時(shí)間正常工作(這正是所有消費(fèi)者需要得到的);從專業(yè)術(shù)語(yǔ)上來(lái)說(shuō),就是產(chǎn)品的可靠性越高,產(chǎn)品可以無(wú)故障工作的時(shí)間就越長(zhǎng)。
何一款智能電子產(chǎn)品新品的上市,都需要經(jīng)過(guò)授權(quán)檢驗(yàn)單位的嚴(yán)格測(cè)試。這些測(cè)試內(nèi)容中非常重要的一項(xiàng)就是智能電子產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及部分部件的壽命試驗(yàn)。在目前的標(biāo)準(zhǔn)文件中,對(duì)環(huán)境試驗(yàn)所規(guī)定的環(huán)境條件通常比智能電子產(chǎn)品使用所處的環(huán)境要嚴(yán)酷的多,并且更有代表性。
由于我國(guó)幅員遼闊,地域廣大,南北溫差大,因而每一種智能電子產(chǎn)品都要經(jīng)過(guò)-10℃和+55℃各4h的工作溫度試驗(yàn);還要進(jìn)行溫度+40℃、相對(duì)濕度92%Rh、連續(xù)48h左右的恒溫恒濕試驗(yàn),試驗(yàn)后射頻指標(biāo)和功能均需符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
這三項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)M智能電子產(chǎn)品在存儲(chǔ)或使用過(guò)程中可能遇到的氣候環(huán)境條件,考察智能電子產(chǎn)品在這些環(huán)境條件中外殼材料是否發(fā)生硬化或脆化導(dǎo)致出現(xiàn)裂紋,電子器件(電阻、電容等)性能是否改變,溫度梯度不同和不同材料的溫度變化系數(shù)是否導(dǎo)致電子線路的穩(wěn)定性發(fā)生變化,是否會(huì)發(fā)生潮氣與電路板相互作用產(chǎn)生腐蝕層等,用于評(píng)價(jià)智能電子產(chǎn)品在低溫、高溫、濕熱情況下整體性能是否會(huì)下降。
另外,智能電子產(chǎn)品還需要在隨機(jī)振動(dòng)條件下進(jìn)行性能測(cè)試,在跌落高度為1.0m、每個(gè)面向下跌落2次、6面共計(jì)12次跌落在剛性表面上的跌落試驗(yàn)后進(jìn)行功能檢查。智能電子產(chǎn)品是隨身攜帶的產(chǎn)品,而人又經(jīng)常不斷地移動(dòng),因此在振動(dòng)條件下進(jìn)行在線性能測(cè)試是為了考察智能電子產(chǎn)品在移動(dòng)的環(huán)境中能否正常工作,而跌落試驗(yàn)是為了檢驗(yàn)智能電子產(chǎn)品對(duì)于用戶的意外使用不當(dāng)是否有一定的保護(hù)性。除此之外,直板智能電子產(chǎn)品需對(duì)按鍵進(jìn)行壽命試驗(yàn),折疊或滑蓋智能電子產(chǎn)品除需做按鍵壽命試驗(yàn)外,還需進(jìn)行翻蓋或滑蓋壽命試驗(yàn),要求按鍵壽命10萬(wàn)次,翻蓋或滑蓋5萬(wàn)次(這相當(dāng)于一部智能電子產(chǎn)品每天接打電話50次,連續(xù)使用約3年),此后測(cè)試智能電子產(chǎn)品的功能是否正常。上述試驗(yàn)需持續(xù)較長(zhǎng)時(shí)間,只有通過(guò)這些試驗(yàn)全部合格的樣品才能獲得通過(guò)。
智能電子產(chǎn)品在環(huán)境可靠性試驗(yàn)中容易出現(xiàn)的故障
在我們?nèi)粘5脑囼?yàn)工作中發(fā)現(xiàn),智能電子產(chǎn)品在環(huán)境可靠性試驗(yàn)中也存在較多問(wèn)題,如高溫、低溫、濕熱試驗(yàn)中會(huì)出現(xiàn)射頻指標(biāo)不合格而導(dǎo)致智能電子產(chǎn)品工作不正常;振動(dòng)試驗(yàn)中智能電子產(chǎn)品的頻率和相位誤差超標(biāo)引起智能電子產(chǎn)品在移動(dòng)體上工作不可靠;跌落試驗(yàn)中智能電子產(chǎn)品天線脫落、屏幕無(wú)顯示、屏幕出現(xiàn)放射狀裂紋、通話為單項(xiàng)通話;翻蓋(滑蓋)壽命試驗(yàn)中轉(zhuǎn)軸故障、軸肩損壞、殼體裂紋、上蓋完全斷裂、屏幕無(wú)顯示、送受話工作不正常等。出現(xiàn)上述現(xiàn)象可能是很多原因造成的,電路結(jié)構(gòu)及參數(shù)配置不合理、電子元器件的選用不當(dāng)可能會(huì)造成高溫、低溫、濕熱、振動(dòng)試驗(yàn)中的性能指標(biāo)不合格;元器件的虛接、屏幕部分的保護(hù)不足、連接器的接口過(guò)松會(huì)導(dǎo)致跌落過(guò)程中智能電子產(chǎn)品出現(xiàn)故障;模具設(shè)計(jì)不合理、受力點(diǎn)處結(jié)構(gòu)單薄、裝配時(shí)轉(zhuǎn)軸的角度和力度不合適、轉(zhuǎn)軸的可靠性不夠、FPC的耐折性不強(qiáng)、智能電子產(chǎn)品材質(zhì)較差都可導(dǎo)致翻蓋壽命試驗(yàn)不合格。
目前在智能電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試方面存在的問(wèn)題
目前,隨著智能電子產(chǎn)品制造商的增多,市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的加劇,幾乎所有的制造商都在強(qiáng)調(diào)只有擴(kuò)大規(guī)模才有生存、發(fā)展的希望,出于這一需要,為激發(fā)消費(fèi)者的需求,智能電子產(chǎn)品制造商推出新款機(jī)型的速度不斷加快,研發(fā)周期不斷被縮短,原來(lái)通常需經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)、研發(fā)、試驗(yàn)、試生產(chǎn)、試用、市場(chǎng)反饋、小范圍推廣等幾個(gè)階段才會(huì)推向市場(chǎng)的一款智能電子產(chǎn)品,由于縮短了產(chǎn)品從研發(fā)到投放市場(chǎng)的時(shí)間,其中某些重要的試驗(yàn)環(huán)節(jié)就被簡(jiǎn)化了,因而產(chǎn)品在可靠性方面存在的問(wèn)題就難以被發(fā)現(xiàn);
另一方面,一些實(shí)力比較弱的智能電子產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)還沒(méi)有建立起完備的測(cè)試、試驗(yàn)體系,也就缺乏必要的測(cè)試手段來(lái)保證產(chǎn)品質(zhì)量。從短期效應(yīng)看,企業(yè)盲目取消或減少必要的測(cè)試,可以縮短研發(fā)周期,加快新品推出速度,節(jié)約資金,減少產(chǎn)品成本,從而提高市場(chǎng)占有率。但從企業(yè)的長(zhǎng)遠(yuǎn)發(fā)展來(lái)看,售后成本增加,品牌形象受到影響,企業(yè)得不償失。國(guó)有品牌智能電子產(chǎn)品的市場(chǎng)占有率這兩年下滑迅速,其中就有這方面的原因。因而,企業(yè)很有必要加強(qiáng)智能電子產(chǎn)品的可靠性測(cè)試,通過(guò)測(cè)試來(lái)改進(jìn)和提高智能電子產(chǎn)品的質(zhì)量。
億博智能電子產(chǎn)品平板類測(cè)試設(shè)備主要有:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)箱、可程式快速溫變?cè)囼?yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、UV紫外光老化試驗(yàn)機(jī)、微跌落試驗(yàn)機(jī)、滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)、觸摸屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)、按鍵試驗(yàn)機(jī)、接口插拔試驗(yàn)機(jī)、翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī)、振動(dòng)、機(jī)械沖擊、低氣壓、防塵防水、鹽霧等。
億博憑借檢測(cè)行業(yè)多年的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)、優(yōu)秀的技術(shù)團(tuán)隊(duì)和對(duì)技術(shù)提升的努力追求,秉承“專業(yè),卓越,精準(zhǔn)”的服務(wù)理念,一直以來(lái)始終站在測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域的前沿,并長(zhǎng)期關(guān)注廣大客戶的需求,我們可按各種標(biāo)準(zhǔn),包括IEC、ISO等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、軍用標(biāo)準(zhǔn),以及客戶的要求進(jìn)行不同等級(jí)的環(huán)境可靠性測(cè)試以及各類材料樣品的老化測(cè)試
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