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深圳市賽特檢測有限公司

檢測認證人脈交流通訊錄

  • 深圳供應低溫存儲壽命試驗/STT賽特檢測

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  • 對應法規(guī)：JESD22-A119
    CNAS認可項目：是

  • 實驗目的

    為了考核低溫對試樣的影響，確定試樣在低溫條件下存儲的適應性。該實驗一般用到高低溫 試驗箱。

    實驗原理

    低溫下電子元器件的電參數會發(fā)生變化、材料變脆及其材料冷縮產生應力等。使電子元器件 處于低溫環(huán)境下一定時間,考核電子元器件的電參數是否發(fā)生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產生應力有多大等，從而確定電子元器件的抗低溫能力。

    實驗參考標準

    JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011

     


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