SGS提供表面微區(qū)元素分析 測試服務(wù)

SGS offer The surface micro area element analysis Testing Services

關(guān)鍵詞：表面元素分析 EDS 能譜分析GB/T 17359-2012 微束分析 定性半定量分析

背景：

隨著電子設(shè)備線路設(shè)計(jì)日益復(fù)雜，焊料無鉛化的嚴(yán)格控制，從而使得化學(xué)鎳金工藝的研究和應(yīng)用越來越被重視并取得了進(jìn)一步的發(fā)展。

PCB作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~，PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要的關(guān)鍵部分，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。但是由于成本以及技術(shù)的原因，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中會(huì)出現(xiàn)大量的失效問題。

對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，從而能保證PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平。

在PCB的分析上，能譜儀可用于表面的成分分析，對(duì)焊盤與引線腳表面污染物的元素分析。能譜儀的定量分析的準(zhǔn)確度有限，低于0.1%的含量一般不易檢出。能譜與SEM結(jié)合使用可以同時(shí)獲得表面形貌與成分的信息，這也是能譜儀應(yīng)用廣泛的原因所在。

應(yīng)用范圍：PCB、PCBA、FPC等。

測試步驟：將樣品進(jìn)行表面鍍鉑金后，放入掃描電子顯微鏡樣品室中，使用15 kV的加速電壓對(duì)測試位置進(jìn)行放大觀察，并用X射線能譜分析儀對(duì)樣品進(jìn)行元素定性半定量分析。

樣品要求：

非磁性或弱磁性，不易潮解且無揮發(fā)性的固態(tài)樣品，小于8CM*8CM*2CM。

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17359-2012微束分析 能譜法定量分析

SGS提供上述測試標(biāo)準(zhǔn)的檢測服務(wù)，詳情請咨詢SGS:

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