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顯微結構分析 |
目的: |
顯微結構分析是人們通過光學顯微鏡(OM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、透視電子顯微鏡(TEM)、X射線衍射儀 (XRD)等分析儀器來研究金屬材料、復合材料、各種新材料等的顯微組織大小、形態、分布、數量和性質的一種方法。 顯微組織是指如晶粒、包含物、夾雜物以及相變產物等特征組織。利用這種方法來考查如合金元素、成分變化及其與顯 微組織變化的關系:冷熱加工過程對組織引入的變化規律;應用金相檢驗還可對產品進行質量控制和產品檢驗以及失效 分析等。故材料微觀結構檢查是材料質量管控的關鍵環節。 |
具體內容詳見如下各分項目介紹! |
樣品制備 |
樣品制備多是破壞性實驗,即利用砂紙(或鉆石砂紙)進行粗磨和細磨,加上后續拋光,可處理出清晰的樣品剖面,搭配后續的檢測設備(光學顯微鏡或掃描式電子顯微鏡)可以觀察樣品的表面形貌、組織結構、界面形貌、鍍層厚度等。 |
樣品剖面研磨的基本流程: |
切割:利用切割機裁將樣品裁切成適當尺寸 |
冷埋:利用混合膠填滿樣品隙縫,增強樣品之結構強度,避免受研磨應力而造樣品毀損 |
研磨:樣品以不同粗細之砂紙(或鉆石砂紙),進行研磨 |
拋光:于絨布轉盤上加入適當的拋光液,進行拋光以消除研磨所殘留的細微刮痕 |
應用: |
電子元器件結構觀察,如倒裝芯片( Flip Chip)、鋁/銅制程結構、COMS、POP等 |
PCB結構及通孔觀察 |
PCBA焊點觀察 |
LED結構觀察 |
金屬及零部件結構觀察 |
流程: |
1)樣品冷鑲嵌 ZTT實驗室,可以滿足客戶的不同測試要求 |