檢測認證人脈交流通訊錄
石墨化度測定 XRD X射線衍射法分析法 硅內標法
這真不是您需要的服務?
直接提問 | 回首頁搜
-
對應法規:產品標準
CNAS認可項目:否
- 使用儀器:粉末X射線衍射分析儀(PNA Xpert,Netherland)、粉末X射線衍射分析儀(Rigaku Smartlab,Japan)
檢測項目:粉末、塊體、薄膜樣品的XRD數據采集
分析項目:(1)礦物成分分析/材料成分(三強法分析);(2)石墨化度(內標法);(3)殘余應力(按標準);(3)半定量分析(K值法)等。
價格:
廣角數據采集(采集時間15min以內) 44元/樣品(超時按每15min計費一次)
小角衍射數據采集(采集時間15min以內) 55元/樣品(超時按每15min計費一次)
石墨化度內標法測定:120元/樣品(含數據采集與分析)