光伏組件PID測試報告檢測機構可靠性IEC62804認證

DIN IEC/TS 62804-1-2017
光伏(PV)模塊.檢測電位誘導衰減的試驗方法.第1部分:晶體硅(IEC/TS 62804-1-2015)

Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation - Part 1: Crystalline silicon (IEC/TS 62804-1:2015)

IEC62804標準的雙85抗PID測試（測試條件為±1000V電壓，85攝氏度、85%相對濕度，96小時）

IEC62804標準的雙85抗PID測試（測試條件為±1500V電壓，85攝氏度、85%相對濕度，192小時）

光伏組件卓越的抗PID性能確保了組件的高質量和高可靠性，保證了光伏電站的穩(wěn)定運行，特別是保障了電站在高溫潮濕等特殊氣候條件下25年生命周期內的平穩(wěn)運作。

我司（安博檢測）測試項目：LID光致衰減，PID(抗電勢誘導衰減)，TC,HF,DH,ML,OD,RC,HS等

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