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或者

中山大學

檢測認證人脈交流通訊錄
  • 儀器名稱:冷場發射掃描電子顯微鏡
  • 價格型號:JSM-6330F
  • 儀器分類:計量儀器/長度計量儀器
  • 應用領域:建筑建材;化工原料;環境保護
  • 所屬單位:中山大學
  • 所在地點:海珠區新港西路135號
  • 產  地:
  • 產  商:日本電子
  • 價  值:0
  • 購置日期:2004-08-26

主要技術指標

1、分辨率:1.5nm

2、放大倍數:x10 ~ x500,000

3、樣品尺寸:<φ8 mm x 5 mm

4、最大尺寸:< 100 mm x 6 mm

主要功能

冷場發射掃描電子顯微分析

具備超高分辨掃描圖像觀察能力,提供高倍數、高分辨掃描圖像,是納米材料粒徑測試和形貌觀察最有效儀器。也是研究材料結構與性能關系所不可缺少的重要工具。

技術特色

高技術服務。

提供優質的測試服務,可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。

主要測試或應用領域

醫療/衛生,礦業/冶金,石油/化工,材料/珠寶首飾,食品/藥品,大氣/海洋/土壤/環境,考古

中山大學



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