聯(lián)系人：李潔(66135058)

儀器簡(jiǎn)介：

　　該儀器可以精確地完成微米/納米壓痕、劃痕和磨損測(cè)試，并同時(shí)給出高分辨的SPM掃描圖像。其擁

有的Feedback Control軟件包可以完成力和位移控制條件下的準(zhǔn)靜態(tài)試驗(yàn)，而其nanoDMAⅡ組件則具

有對(duì)材料進(jìn)行動(dòng)態(tài)力學(xué)性能測(cè)試和模量成像的功能。此外，該系統(tǒng)還具有冷/熱變溫控制樣品臺(tái)。該系統(tǒng)

主要用于測(cè)試材料的微硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、蠕變、存儲(chǔ)模量、損失模量等。

主要技術(shù)指標(biāo)：

　　1.高精密定位平臺(tái)

　　2.光學(xué)可變焦CCD攝像系統(tǒng)、電子減震臺(tái)和隔聲罩、計(jì)算機(jī)控制站

　　3.Feedback Control獨(dú)特軟件包

　　4.nanoDMA II動(dòng)態(tài)力學(xué)分析系統(tǒng)

　　5.冷/熱變溫控制樣品臺(tái)-II

應(yīng)用范圍：

　　原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于薄膜、多相材料及其晶界、復(fù)合材料及其界面、MEMS、生物材料等

各種材料在納米尺度上的力學(xué)性能表征，可實(shí)現(xiàn)精確定位條件下的原位測(cè)試。利用它，不僅可以在納米

尺度上開(kāi)展材料力學(xué)行為的研究，還可以進(jìn)行納米尺寸上的機(jī)械加工。

　　原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是目前國(guó)際上實(shí)現(xiàn)納米力學(xué)測(cè)試最有效的設(shè)備，是教學(xué)和深入開(kāi)展微納米材

料和結(jié)構(gòu)的物理、力學(xué)性能研究的必備實(shí)驗(yàn)設(shè)備。