聯系人：陳文覺(56332496)

儀器簡介：

　　掃描電子顯微鏡是進行樣品表面分析研究的有效工具，尤其適合于比較粗糙的表面如金屬斷口和顯

微組織三維形態的觀察研究。取向成象分析系統及能譜儀作為附件配備在掃描電子顯微鏡上，使掃描電

子顯微鏡能在原有的功能即形貌觀察的基礎上，進一步進行晶體取向和織構分析、微觀結構以及微區成

分的分析研究。

主要技術指標：

　　1.二次電子象分辯率：35AÅ；

　　2.放大倍數：20~200000；

　　3.加速電壓：0.5~30kv；

　　4.最大束流：300μA；

　　5.分析元素范圍：Be4-U92

應用范圍：

　　適用于各種材料的研究與產品測試，包括金屬和非金屬等各種材料。