聯(lián)系人：李潔(66135058)

儀器簡介：

　　低溫掃描隧道顯微鏡的超高真空系統(tǒng)及控制系統(tǒng)；低溫超高真空掃描隧道顯微鏡；帶四接觸點的樣品測試臺；數(shù)字式溫控器；Matrix掃描探針控制系統(tǒng)；Multiprobe低溫系統(tǒng)，Qplus AFM探測器；光學(xué)顯微鏡；升級的QPlus AFM功能控制器。

主要技術(shù)指標：

　　1. 真空度：<3×10-10 mbar；

　　2. 可在液氦(～5 K)，液氮(～78 K)；和室溫三種溫度測量；液氦溫度連續(xù)測量時間為48小時；

　　3. 具有STM和QPlus-AFM兩種成像功能，可獲得原子像分辨；可進行隧道電流譜測量。

應(yīng)用范圍：

　　1. 可對材料表面或沉積于襯底表面的納米結(jié)構(gòu)進行形貌成像，可達到原子像分辨；

　　2. 可在成像同時進行隧道電流譜測量，獲得表面局域電子態(tài)的信息。