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  • 低溫測試報告

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  • 低溫測試報告? 本文轉自:http://www.diwenceshi.com/dwcszx/259.html 咨詢:13570847473(同微信)QQ:646826608   低溫測試為了測試產品長期在低溫的環境中存儲、運輸與工作中能夠正常的運行,不受低溫的影響,試驗的嚴苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續時間。 低溫測試   億博低溫測試實驗室提供常規恒溫恒濕箱,根據不同類型的產品,為您提供測試服務。   參考的測試標準:GB/T 2423.1,IEC 60068-2-1,EIA 364, MIL-STD-810F等。   低溫測試目的是檢驗試件能否在長期的低溫環境中儲藏、操縱控制,是確定軍民用設備在低溫條件下儲存和工作的適應性及耐久性。低溫下材料物理化學性能。標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規范要求。主要用于科研研究、醫遼用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。   低溫試驗   -30±2℃環境中放置4h,常溫下放置2h后, 各尺寸、絕緣電阻、耐壓、按鍵功能、回路電阻符合正常要求,且外觀無變形、翹曲、脫膠等異常現象。   溫度范圍:-70℃~10℃。   按GB/T 2423.2—89 《電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法高溫試驗》;   GB/T 2423.22—87 《電工電子產品環境試驗 第二部分:試驗方法 溫度變化試驗方法》   進行低溫試驗及溫度變化試驗。   低溫條件下試件的失效模式:產品所使用零件、材料在低溫時可能發生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現象。   低溫環境對設備的主要影響有:   a. 使材料發硬變脆;   b. 潤滑劑粘度增加,流動能力降低,潤滑作用減小;   c. 電子元器件性能發生變化;   d. 水冷凝結冰;   e. 密封件失效;   f. 材料收縮造成機械結構變化。

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