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  • XPS測試_XPS檢測_X射線光電子能譜測試服務

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  • X射線光電子能譜(XPS),基于光電離作用,當一束光子輻射到樣品表面時,光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收,使該原子解脫原子核的束縛,以一定的動能從原子內(nèi)部發(fā)射出來,變成自由的光電子,而原子本身則變成一個激發(fā)態(tài)的離子。當固定激發(fā)源能量時,其光電子的能量僅與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關,由此根據(jù)光電子的結合能定性分析物質(zhì)的元素種類。經(jīng)X射線輻照后,從樣品表面射出的光電子的強度與樣品中該原子的濃度呈線性關系,可以進一步進行元素的半定量分析。另外,XPS的重要應用是對元素的化學價態(tài)進行分析。 儀器技術參數(shù) 離子源:100-4000eV 束斑直徑:1-10mm 濺射速率范圍:0.1-50nm/min 采樣深度:金屬0.5-2nm,無機物1-3nm,有機物3-10nm 送樣要求 固體粉末:均勻干燥,粒度小于70um(過200目),質(zhì)量不少于100 mg; 塊體、金屬及薄膜樣,長寬小于10mm,高度小于5mm。 對含有揮發(fā)性、油污污染物的樣品許提前去除,絕對禁止分析帶有磁性的樣品。 應用 在化學、材料科學及表面科學中具有廣泛的應用價值。 1、 表面元素定性分析 2、 表面元素的半定量分析 3、 表面元素的化學價態(tài)分析 4、 元素沿深度方向的分布分析 常見譜圖 常見適用標準 ISO 16531-2013 表面化學分析.深度剖析.原子發(fā)射光譜(AES)和光電子能譜(XPS)中深度剖析用電流或電流密度的離子束校正和相關測量方法 專業(yè)、高效、精準、高性價比是上海劑拓材料科技有限公司的服務宗旨。

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