檢測認證人脈交流通訊錄
SEM測試_SEM檢測_掃描電鏡_服務
這真不是您需要的服務？
- 原理 高能的入射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區域產生的電磁輻射. 儀器技術參數 分辨率: 30 kV，3.0 nm(高真空模式), 背散射電子分辨率30 kV，4.0 nm(高真空模式). 放大倍率: ×5 - ×300,000. 加速電壓0.3 - 30 Kv. 送樣要求 粉狀樣品1-5g之間，能把3-5mm直接樣品填滿即可。塊狀樣品不能大于5mm寬，高度小于5mm. 應用領域 材料，粉體，礦物粒徑大小，表面斷面形貌分析, 填料分散狀態復合材料結構, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。 適用標準 GB/T 16594-2008微米級長度的掃描電鏡測量方法通則 GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 專業、高效、精準、高性價比是劑拓公司的服務宗旨。
